光矢量分析儀OCI-V

產(chǎn)品型號：

所屬分類：OFDR矢量分析儀

更新時間：2024-11-14

簡要描述：光矢量分析儀OCI-V是一款快速檢測光學(xué)器件損耗、色散和偏振等相關(guān)參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。

聯(lián)系我們 在線咨詢

光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結(jié)合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關(guān)損耗、偏振模色散等光學(xué)參數(shù)。該系統(tǒng)采用光路設(shè)計以及*算法，實現(xiàn)智能校準，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。

　　特點：

　　  • 自校準

    • 測量長度：200m

　　  • 波段：C+L、O波段（可選）

　　  • 1秒內(nèi)測量多種光學(xué)參數(shù)

　　應(yīng)用：

   •平面波導(dǎo)器件、硅光器件、光纖器件。

　　• 波長可調(diào)器件、放大器、濾波器。

　　• 測量參數(shù)：偏振相關(guān)損耗PDL，偏振模色散PMD，插損IL，群延時GD，色散CD，瓊斯矩陣參數(shù)，光學(xué)相位。

     光矢量分析儀OCI-V參數(shù)：

備注：

1.透射模式測量長度200m，可拓展反射模式，測量長度為100m；

2.光矢量分析儀(OCI-V)可拓展OFDR功能，測量光纖鏈路。